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光电探测器寿命评估试验系统 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104634447B, 申请日期: 2016-09-07, 公开日期: 2016-09-07
发明人:  何伟;  周小燕;  向秋澄;  黄海华;  李龙;  梁晨宇
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光电探测器寿命评估试验系统 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104634447B, 申请日期: 2016-09-07, 公开日期: 2016-09-07
发明人:  何伟;  周小燕;  向秋澄;  黄海华;  李龙;  梁晨宇
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显微系统中的空间光场调控技术与应用研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2016
作者:  于湘华
Adobe PDF(8619Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：205/9  |  提交时间：2016/06/08
空间光场  光学显微系统  空间光调制器  计算全息图  复振幅调控  无衍射光束  光学存储  微结构制备  菌紫质  塑料偏振片