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仿CT扫描模式多光谱时域荧光分子层析测量系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101816552A, 申请日期: 2010-09-01, 公开日期: 2010-09-01
发明人:  高峰;  李娇;  赵会娟;  张丽敏;  周仲兴;  张伟;  易茜
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