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针对大孔径静态干涉成像光谱仪的地面测试系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN102829869, 申请日期: 2014-03-26, 公开日期: 2012-12-19
发明人:  刘学斌;  李然;  陈小来;  胡炳樑;  王彩玲;  翟颉
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