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用于流场诊断的快速荧光寿命成像系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201911303203.7, 申请日期: 2019-12-17, 公开日期: 2020-04-17
发明人:  李亚晖;  高贵龙;  何凯;  田进寿
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全光固体超快探测芯片、全光固体超快探测器及其探测方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201910594755.1, 申请日期: 2019-07-03, 公开日期: 2019-11-01
发明人:  汪韬;  高贵龙;  何凯;  闫欣;  田进寿;  李少辉;  尹飞;  辛丽伟
Adobe PDF(409Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：181/9  |  提交时间：2019/12/23