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一种双光路探测横向剪切干涉仪及其干涉方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201510518613.9, 申请日期: 2015-08-21,
发明人:  邹纯博;  李立波;  白清兰;  胡炳樑;  刘学斌;  孙剑
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一种双光路探测横向剪切干涉仪 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL201520636385.3, 申请日期: 2015-08-21,
发明人:  邹纯博;  李立波;  白清兰;  胡炳樑;  刘学斌;  孙剑
Adobe PDF(249Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：153/0  |  提交时间：2016/01/08