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一种半导体激光器芯片测试固定装置及其方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN105467291B, 申请日期: 2018-06-26, 公开日期: 2018-06-26
发明人:  李秀山;  王贞福;  杨国文
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用于半导体激光器腔面失效分析的综合测试系统 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN105115698B, 申请日期: 2018-06-15, 公开日期: 2018-06-15
发明人:  李秀山;  王贞福;  杨国文
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多发光单元半导体激光器空间阈值电流的测试方法及装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN103529274B, 申请日期: 2017-04-12, 公开日期: 2017-04-12
发明人:  王贞福;  刘兴胜
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一种多发光单元半导体激光器空间偏振测试方法及装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN103528799B, 申请日期: 2017-01-11, 公开日期: 2017-01-11
发明人:  王贞福;  刘兴胜
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一种半导体激光器bar条 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN205790937U, 申请日期: 2016-12-07, 公开日期: 2016-12-07
发明人:  李秀山;  王贞福;  杨国文
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一种半导体激光器芯片测试固定装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN205749798U, 申请日期: 2016-11-30, 公开日期: 2016-11-30
发明人:  李秀山;  王贞福;  杨国文
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一种半导体激光器bar条 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN106058643A, 申请日期: 2016-10-26, 公开日期: 2016-10-26
发明人:  李秀山;  王贞福;  杨国文
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用于半导体激光器腔面失效分析的综合测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN205015147U, 申请日期: 2016-02-03, 公开日期: 2016-02-03
发明人:  李秀山;  王贞福;  杨国文
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折射型高功率半导体激光器阵列光束整形装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN103278928B, 申请日期: 2015-11-18, 公开日期: 2015-11-18
发明人:  黄志华;  刘兴胜;  熊玲玲;  张普;  王贞福;  刘晖
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一种高功率半导体激光器系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN204088872U, 申请日期: 2015-01-07, 公开日期: 2015-01-07
发明人:  张普;  刘兴胜;  熊玲玲;  王贞福;  聂志强
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