中文版 | English

在结果中检索

OPT OpenIR

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
基于半导体激光—电荷耦合器件的微位移测量装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN2807198Y, 申请日期: 2006-08-16, 公开日期: 2006-08-16
发明人:  陈昌浩;  倪焕明;  杨志;  陈方胤
Adobe PDF(682Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：51/0  |  提交时间：2019/12/26
基于半导体激光－电荷耦合器件的微位移测量系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN1712885A, 申请日期: 2005-12-28, 公开日期: 2005-12-28
发明人:  陈昌浩;  倪焕明;  杨志;  陈方胤
Adobe PDF(718Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：59/0  |  提交时间：2019/12/31