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テスト回路およびテスト方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2007294028A, 申请日期: 2007-11-08, 公开日期: 2007-11-08
发明人:  黒岩 洋佑;  福田 秀雄;  山口 博史;  茶藤 哲夫;  志水 雄三;  谷口 正記
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光半導体装置および光ピックアップ装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: JP3997832B2, 申请日期: 2007-08-17, 公开日期: 2007-10-24
发明人:  今泉 憲二;  志水 雄三;  茶藤 哲夫;  嶋崎 豊幸;  大澤 勝市
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受発光装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2006268962A, 申请日期: 2006-10-05, 公开日期: 2006-10-05
发明人:  茶藤 哲夫;  福田 秀雄;  志水 雄三;  今泉 憲二;  宮本 伸一
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