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電子部品試験装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2010151794A, 申请日期: 2010-07-08, 公开日期: 2010-07-08
发明人:  宮 貴則;  早水 勲;  田中 彰一
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半導体装置および半導体装置の製造方法、光ピックアップ装置および光ディスクドライブ装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2008084396A, 申请日期: 2008-04-10, 公开日期: 2008-04-10
发明人:  早水 勲;  田中 彰一
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半导体器件 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101079413A, 申请日期: 2007-11-28, 公开日期: 2007-11-28
发明人:  早水勋;  田中彰一
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光学器件的试验装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN1835201A, 申请日期: 2006-09-20, 公开日期: 2006-09-20
发明人:  早水勲;  西川透;  立柳昌哉;  田中彰一
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樹脂パッケージ、光学デバイス、及びそのためのリードフレーム 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2006245249A, 申请日期: 2006-09-14, 公开日期: 2006-09-14
发明人:  岡本 重樹;  田中 彰一;  立柳 昌哉
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