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采用高漫反射方腔增加光程的可调谐二极管激光痕量气体检测装置及方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN103389283B, 申请日期: 2015-04-01, 公开日期: 2015-04-01
发明人:  张治国;  虞佳;  高强;  李银杰;  张云刚
Adobe PDF(528Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：84/0  |  提交时间：2019/12/26
采用高漫反射方腔增加光程的可调谐二极管激光痕量气体检测装置及方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN103389283B, 申请日期: 2015-04-01, 公开日期: 2015-04-01
发明人:  张治国;  虞佳;  高强;  李银杰;  张云刚
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