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光学设备及其制造方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101425526A, 申请日期: 2009-05-06, 公开日期: 2009-05-06
发明人:  孟虎;  大崎裕人;  西尾哲史;  糸井清一
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半導体レーザ装置の製造方法およびリードカット方法とリードカット用金型 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2006294657A, 申请日期: 2006-10-26, 公开日期: 2006-10-26
发明人:  大崎 裕人;  立柳 昌哉;  三嶋 満博;  大橋 慎一;  田村 佳和;  早水 勲;  岡本 重樹
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半導体レーザ素子のスクリーニング装置およびスクリーニング方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2004096030A, 申请日期: 2004-03-25, 公开日期: 2004-03-25
发明人:  大▲崎▼ 裕人;  田村 佳和
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半導体装置の製造方法および半導体装置の製造装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2004094144A, 申请日期: 2004-03-25, 公开日期: 2004-03-25
发明人:  大▲崎▼ 裕人;  増井 浩司
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半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2003004797A, 申请日期: 2003-01-08, 公开日期: 2003-01-08
发明人:  大崎 裕人;  田村 佳和
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