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一种基于二次平台线阵CCD的水平位置测量方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN103983189B, 申请日期: 2017-02-08, 公开日期: 2017-02-08
发明人:  刘杨;  李理;  付振宪;  谭久彬
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基于高精度同步多测尺的半导体激光测距装置与方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104035087B, 申请日期: 2017-01-18, 公开日期: 2017-01-18
发明人:  谭久彬;  杨宏兴;  胡鹏程
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