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一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020651280.3, 申请日期: 2021-01-15,
发明人:  尹飞;  汪韬;  闫欣;  高贵龙;  何凯;  田进寿
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一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010339529.1, 申请日期: 2020-04-26, 公开日期: 2020-07-24
发明人:  尹飞;  汪韬;  闫欣;  高贵龙;  何凯;  田进寿
Adobe PDF(704Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：144/7  |  提交时间：2021/11/17