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FPM-WSI: Fourier ptychographic whole slide imaging via feature-domain backdiffraction 预印本
2024
作者:  Zhang, Shuhe;  Wang, Aiye;  Xu, Jinghao;  Feng, Tianci;  Zhou, Jinhua;  Pan, An
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Layer by Layer Assembly Cs/Paa for High Sensitivity Detection of Heavy Metal Ions Using Mode Interference Sensor 预印本
2023
作者:  Yan, Minglu;  Wang, Ruiduo;  Liu, Beibei;  Li, Yangyang;  Li, Yarong;  Jiang, Man
Adobe PDF(3763Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：84/0  |  提交时间：2023/03/23