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磨抛夹具 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN106695554B, 申请日期: 2019-08-09, 公开日期: 2019-08-09
发明人:  孔金霞;  刘素平;  马骁宇
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一种TSV封装缺陷检测装置及其检测方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN106158688B, 申请日期: 2019-03-01, 公开日期: 2019-03-01
发明人:  陆向宁;  何贞志;  邵明辉;  樊梦莹
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一种半导体激光器静电失效分析方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN105425136B, 申请日期: 2018-08-10, 公开日期: 2018-08-10
发明人:  庞艺;  赵柏秦
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用于半导体激光器腔面失效分析的综合测试系统 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN105115698B, 申请日期: 2018-06-15, 公开日期: 2018-06-15
发明人:  李秀山;  王贞福;  杨国文
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用于半导体激光器腔面失效分析的综合测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN205015147U, 申请日期: 2016-02-03, 公开日期: 2016-02-03
发明人:  李秀山;  王贞福;  杨国文
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一种半导体激光器寿命测试装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN102062675B, 申请日期: 2013-03-20, 公开日期: 2013-03-20
发明人:  刘兴胜;  代华斌;  张彦鑫;  李锋;  吴迪
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一种用于探针台的半导体激光器 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202616597U, 申请日期: 2012-12-19, 公开日期: 2012-12-19
发明人:  刘世文
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LD阵列多侧面泵浦激光器 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN102623879A, 申请日期: 2012-08-01, 公开日期: 2012-08-01
发明人:  刘世文
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一种激光器寿命测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202003003U, 申请日期: 2011-10-05, 公开日期: 2011-10-05
发明人:  刘兴胜;  代华斌;  张彦鑫;  李锋;  吴迪
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半導体レーザ、半導体レーザの製造方法および評価装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2007184556A, 申请日期: 2007-07-19, 公开日期: 2007-07-19
发明人:  吉田 保明;  冨田 信之;  竹見 政義;  多田 仁史
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