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一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020651280.3, 申请日期: 2021-01-15,
发明人:  尹飞;  汪韬;  闫欣;  高贵龙;  何凯;  田进寿
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用于ICF芯部自发光关键过程的全光固体超快成像系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011544173.1, 申请日期: 2020-12-23, 公开日期: 2021-04-13
发明人:  高贵龙;  何凯;  闫欣;  汪韬;  田进寿;  尹飞;  辛丽伟;  王刚;  刘毅恒;  姚东;  李知兵;  张杰;  吴永程;  刘冲;  薛彦华
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一种实时三维显微成像装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011156312.3, 申请日期: 2020-10-26, 公开日期: 2021-03-16
发明人:  尹飞;  汪韬;  闫欣;  何凯;  高贵龙;  田进寿
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一种确定性加权编码方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201911348836.X, 申请日期: 2019-12-24, 公开日期: 2020-05-19
发明人:  吉超;  田进寿;  何凯;  王兴;  辛丽伟;  闫欣;  温文龙;  王俊锋
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倒像式像增强型超快成像探测器 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201910688741.6, 申请日期: 2019-07-29, 公开日期: 2019-11-22
发明人:  田进寿;  何凯;  高贵龙;  汪韬;  闫欣;  辛丽伟;  李少辉;  尹飞;  韦永林;  徐向晏;  卢裕;  王兴;  刘虎林;  陈萍;  温文龙;  王超;  王俊峰;  赛小锋
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