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一种基于开关电容阵列采样的半导体激光测距机 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN105403892A, 申请日期: 2016-03-16, 公开日期: 2016-03-16
发明人:  王飞;  王锐;  王挺峰;  郭劲
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