OPT OpenIR  > 先进光学仪器研究室
一种紧凑型质子能谱测量装置
闫亚东; 刘霞刚; 高炜; 李奇; 王军宁; 何俊华
2021-02-19
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型提供了一种紧凑型质子能谱测量装置,解决现有采用堆栈探测器对质子能谱探测,效率低且具有接触污染物风险的问题。该装置包括沿质子出射方向依次同轴设置的楔形滤片、闪烁体、成像镜头及探测器;楔形滤片的薄边厚度为0.2mm~2mm,厚边厚度为1.0mm~10mm;成像镜头采用物方远心系统;质子束入射楔形滤片,经楔形滤片能谱过滤后入射闪烁体,激发出可见光子并入射至成像镜头,成像镜头将可见光子的空间分布图像成像到探测器的像增强靶面上。楔形滤片不同厚度位置透过的质子能量不同,因而通过楔形滤片可以获得质子的连续能谱信息,实现质子能谱的高效测量。
专利号CN202021834043.7
语种中文
专利状态授权
公开(公告)号CN212569163U
IPC 分类号G01T1/36
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/96996
专题先进光学仪器研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
闫亚东,刘霞刚,高炜,等. 一种紧凑型质子能谱测量装置. CN202021834043.7[P]. 2021-02-19.
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