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一种半导体激光器腔面光学灾变损伤峰值功率的测试装置
王贞福; 李特
2021-03-05
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型提供一种半导体激光器腔面光学灾变损伤峰值功率的测试装置。该测试装置包括驱动电源、功率计、至少一组反射镜及其驱动调节组件,驱动调节组件用于驱动反射镜以待测半导体激光器阵列为圆心作弧线移动,并使激光反射到激光器的腔面上;驱动调节组件中,摆臂安装于定位平台下方,并与定位平台上待测半导体激光器阵列的安装平面平行,摆臂的固定端由步进电机驱动旋转,旋转轴与待测半导体激光器阵列的中心同轴,并与所述安装平面垂直;反射镜通过转接件安装于摆臂的自由端,使反射镜与待测半导体激光器阵列的中心处于同一高度。该装置结构简明,工作稳定、可靠,便于实现,能够更加准确、客观地得出发生COMD的驱动电流和峰值功率。
专利号CN202021812360.9
语种中文
专利状态授权
公开(公告)号CN212658422U
IPC 分类号G01J1/42 ; G01M11/02
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/96973
专题瞬态光学研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
王贞福,李特. 一种半导体激光器腔面光学灾变损伤峰值功率的测试装置. CN202021812360.9[P]. 2021-03-05.
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一种半导体激光器腔面光学灾变损伤峰值功率(476KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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