OPT OpenIR  > 光谱成像技术研究室
一种双滤波横向剪切干涉仪及基于其的光谱成像方法
王鹏冲; 李思远; 冯玉涛; 张朋昌; 陈莎莎; 刘宏; 杨莹; 胡炳樑; 卫翠玉
2020-12-30
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2021-05-18
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明提供了一种双滤波横向剪切干涉仪及基于其的光谱成像方法,解决现有干涉仪由于机械移动部件移动引入的线性误差问题,干涉仪包括沿光路依次设置的前置光学准直系统、第一偏振器、第一声光可调谐滤波器、第二声光可调谐滤波器、第二偏振器、傅里叶变换成像物镜、光电探测器;前置光学准直系统置于光路最前端,光电探测器位于傅里叶变换成像物镜的像面上;被测远场目标的反射、辐射或者透射光经前置光学准直系统后被第一偏振器起偏形成线偏振光,然后依次在第一声光可调谐滤波器、第二声光可调谐滤波器内发生声光互作用,输出光经过第二偏振器后被傅里叶变换成像物镜聚焦于光电探测器的靶面上形成干涉条纹。
申请日期2020-12-30
专利号CN202011611470.3
语种中文
专利状态申请中
公开(公告)号CN112815830A
IPC 分类号G01B9/02
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95528
专题光谱成像技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
王鹏冲,李思远,冯玉涛,等. 一种双滤波横向剪切干涉仪及基于其的光谱成像方法. CN202011611470.3[P]. 2020-12-30.
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一种双滤波横向剪切干涉仪及基于其的光谱成(519KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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