OPT OpenIR  > 空间科学微光探测技术研究室
一种高时间分辨单光子探测方法及单光子探测系统
朱炳利; 白永林; 曹伟伟; 徐鹏; 杨阳; 白晓红; 王博; 秦君军; 陈震
2021-10-12
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2021-01-08
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明提供一种高时间分辨单光子探测方法及单光子探测系统,解决现有技术中单光子探测器时间分辨精度较低的问题。本发明提取待测光子事件的一维光子信息,并通过将待测光子事件的时间信息转换成空间信息,消除了电子倍增过程的时间弥散对探测器时间分辨的影响,提高了时间测量精度。
申请日期2020-09-14
专利号CN202010960797.5
语种中文
专利状态授权
公开(公告)号CN112197879B
IPC 分类号G01J11/00
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95449
专题空间科学微光探测技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
朱炳利,白永林,曹伟伟,等. 一种高时间分辨单光子探测方法及单光子探测系统. CN202010960797.5[P]. 2021-10-12.
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一种高时间分辨单光子探测方法及单光子探测(550KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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