OPT OpenIR  > 光谱成像技术研究室
基于带通采样技术的干涉光谱系统及目标光谱信息获取方法
李思远; 田飞飞; 王鹏冲; 张宏建; 张周锋
2021-11-16
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2020-12-25
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明提出一种基于带通采样技术的干涉光谱系统及目标光谱信息获取方法,以解决干涉光谱仪系统结构复杂、成本高、应用场景受限的技术问题。本发明将宽谱段光谱信号经色散单元进行色散预处理,得到以波长函数分布的宽带信号,宽带信号经干涉仪单元进行干涉调制,再按照带通采样技术要求进行间隔采样,由光电探测器收集干涉图信息,对光电探测器收集的干涉图信息等间距分割为多个窄带信号对应的干涉图信息,然后对等间隔分割后得到的干涉图信息进行处理及反演后,得到探测目标所对应的光谱分布。本发明相比奈奎斯特采样技术,允许以更大的采样间隔进行采样,有利于减少数据量,具有星载光谱探测应用的巨大潜力。
申请日期2020-08-19
专利号CN202010838125.7
语种中文
专利状态授权
公开(公告)号CN112129409B
IPC 分类号G01J3/45
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95438
专题光谱成像技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
李思远,田飞飞,王鹏冲,等. 基于带通采样技术的干涉光谱系统及目标光谱信息获取方法. CN202010838125.7[P]. 2021-11-16.
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基于带通采样技术的干涉光谱系统及目标光谱(501KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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