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一种二维转台折转光学组件的调试方法
李小燕; 曹明强; 岳娟; 侯晓华; 韩娟; 康世发; 李华
2021-09-14
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2021-09-14
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及一种二维转台折转光学组件的调试方法,以解决现有的二维转台折转光学组件在转台侧卧状态下调试存在占用空间较大、调试工作量大,且调试精度不高的技术问题。本发明方法包括:搭建调试系统,在转台俯仰轴的俯仰法兰上安装俯仰轴标定工装,俯仰轴标定工装包括光学分划板;俯仰轴光学标定,调整光学分划板的倾斜转动使自准像的晃动量最小,调整光学分划板水平移动使十字叉丝像的画圆量最小;折转光学组件调试,采用自准直仪发出的平行光与光路折轴棱镜、待调试转台折轴镜及光学分划板形成自准直光路,进行转台折轴镜姿态的调整。本发明调试方法简单、高效、并使最终折轴镜组件对两轴穿心精度可提高2倍以上。
申请日期2020-12-04
专利号CN202011410424.7
语种中文
专利状态授权
公开(公告)号CN112596258B
IPC 分类号G02B27/62
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95304
专题装校技术研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
李小燕,曹明强,岳娟,等. 一种二维转台折转光学组件的调试方法. CN202011410424.7[P]. 2021-09-14.
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