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高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法
陈莎莎; 魏儒义; 王鹏冲; 谢正茂; 刘宏; 刘斌; 狄腊梅; 严强强
2021-04-20
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2021-04-20
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及一种高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法。克服传统迈克尔逊干涉的成像光谱仪探测精度较低以及传统基于Sagnac干涉仪的成像光谱仪能量利用率和分辨率较低的问题,包括依次设置在光路中的准直镜、偏振片、干涉仪、色散系统、成像镜及探测器;干涉仪包括位于偏振分束器的出射光路中的半波片及光程差标准具;目标光源入射到干涉仪利用半波片调节S光或P光的振动方向,使得S光和P光具有相同的振动方向;利用光程差标准具调节S光和/或P光的光程,使得S光和P光之间产生固定的光程差;非偏分束器将具有相同振动方向、固定光程差的S光和P光均反射和透射,形成干涉条纹;干涉条纹经色散系统色散后成像在探测器上。
申请日期2020-04-22
专利号CN202010322232.4
语种中文
专利状态授权
公开(公告)号CN111562002B
IPC 分类号G01J3/28 ; G01J3/447 ; G01J3/45 ; G01J3/02
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95211
专题光谱成像技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
陈莎莎,魏儒义,王鹏冲,等. 高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法. CN202010322232.4[P]. 2021-04-20.
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高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像(679KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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