| 基于线阵CCD交汇测量的立靶参数测试装置及其调试方法 |
| 李翔宇; 丁璐; 朱建国; 李哲; 李治国 ; 刘德宏
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| 2021-03-19
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| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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| 公开日期 | 2021-03-19
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明专利
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| 产权排序 | 1
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| 摘要 | 本发明提供一种基于线阵CCD交汇测量的立靶参数测试装置及其调试方法，解决现有线阵CCD交汇测试装置在外场应用时环境适应性差，调试效率低，设备调试、标定困难的问题。该测试装置中，支撑架、中间支架、调平底座由上到下依次安装；调平底座上设置有多组调平组件；激光照明装置和线阵CCD相机均设置在支撑架上；激光测距器设置在中间支架上；方位轴系包括主轴和主轴套，主轴位于调平底座内部，且与中间支架固定连接；主轴套套装在主轴的外部，且与调平底座固定连接；互瞄单元包括互瞄光源、互瞄相机和互瞄调整组件；互瞄光源、互瞄相机和互瞄调整组件设置在中间支架腔体内部，互瞄调整组件用于手动或电动旋转方位轴系，从而调整中间支架。 |
| 申请日期 | 2020-03-30
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| 专利号 | CN202010237263.X
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 授权
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| 公开（公告）号 | CN111521061B
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| IPC 分类号 | F41A31/00
; F41J5/02
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95196
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| 专题 | 光电跟踪与测量技术研究室
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
李翔宇,丁璐,朱建国,等. 基于线阵CCD交汇测量的立靶参数测试装置及其调试方法. CN202010237263.X[P]. 2021-03-19.
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