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一种光学组件性能测试平台
赵燕; 赛建刚; 王亚军; 高斌; 高博; 韩磊; 张海民; 段炯; 贾琦; 孟宁飞; 赵越
2021-06-22
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2021-06-22
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明公开了一种光学组件性能测试平台。该平台包括上壳体、底板以及下壳体;上壳体和下壳体密封扣合为一个密封舱体;下壳体内设有至少三条横梁,每根横梁上均设有至少三个柱状凸起,所有柱状凸起构成用于承载底板的支撑体;底板上放置多个光学测试设备;上壳体的前端面设有光通道接口,所述光通道接口通过软管与外部环境试验模拟装置对接,上壳体的后端面为密封面;上壳体的后端侧面设有光学输出窗口。该测试平台测试精度高、结构简单,易于密封,对于一些小型设备或没有地面条件的环境也同样具有适用性。
申请日期2020-03-27
专利号CN202010229637.3
语种中文
专利状态已授权
公开(公告)号CN111426448B
IPC 分类号G01M11/00
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95179
专题环境试验中心
推荐引用方式
GB/T 7714
赵燕,赛建刚,王亚军,等. 一种光学组件性能测试平台. CN202010229637.3[P]. 2021-06-22.
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