OPT OpenIR  > 空间光学技术研究室
一种高抑制比光陷阱
陈钦芳; 薛要克; 刘阳; 林上民; 刘美莹; 马占鹏
2020-09-01
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型提供了一种高抑制比光陷阱,解决现有光陷阱对随机入射光和平行光无针对性,入射光难以满足高精度的杂散光测试需求,成本较高的问题。该光陷阱包括底面、平行设置的两个等腰直角三角形侧面、形状相同的第一反射面和第二反射面;底面、第一反射面、第二反射面、等腰直角三角形侧面内壁材均为黑色玻璃;底面、第一反射面、第二反射面依次尾首连接形成三角柱框架;两个等腰直角三角形侧面分别位于三角柱框架两侧开口处,形成密封腔室;底面上设有通光孔,该通光孔靠近第一反射面;经通光孔进入的平行光依次经第一反射面反射、第二反射面反射至底面,经底面反射回的光线再依次经第二反射面反射、第一反射面反射后从通光孔出射。
授权日期2020-09-01
申请日期2019-12-24
专利号CN201922350822.3
语种中文
专利状态授权
申请号CN201922350822.3
公开(公告)号CN211402914U
IPC 分类号G02B17/06 ; G02B1/00
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/94172
专题空间光学技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
陈钦芳,薛要克,刘阳,等. 一种高抑制比光陷阱. CN201922350822.3[P]. 2020-09-01.
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