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一种点源透过率测试系统
李朝辉; 赵建科; 徐亮; 刘峰; 张玺斌; 李晓辉; 午建军; 刘勇; 毛振
2020-07-31
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型属于光学系统杂散光测试领域,涉及一种点源透过率测试系统,以解决PST测试精度受杂光影响的问题。包括光源、平行光管及测试腔体,还包括设置在平行光管出光口与测试腔体入光口之间的可变光阑装置;可根据被测相机口径以及测试角度选择合适的光阑大小,以屏蔽测试孔径之外的入射光柱,减少杂光辐射量,同时设计用于点源透过率测试的双球型腔体,其横竖截面与双圆柱型腔体相同,该腔体结构的截面在方位和俯仰上同时兼顾双圆柱型腔体的消光优点,使得相机测试角度为非水平方向时,腔体内壁反射光线经过多次反射后,能够进入到相机内部的杂光几乎可以忽略向完全不受限,保证杂光测试的顺利进行。
授权日期2020-07-31
申请日期2019-11-04
专利号CN201921878539.1
语种中文
专利状态授权
申请号CN201921878539.1
公开(公告)号CN211147990U
IPC 分类号G01M11/02
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/94148
专题精密计量技术研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
李朝辉,赵建科,徐亮,等. 一种点源透过率测试系统. CN201921878539.1[P]. 2020-07-31.
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