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真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测试装置
谢友金; 高雄; 崔凯; 刘鹏
2020-01-31
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2020-01-31
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要为了更精准地测试导电滑环摩擦副摩擦磨损特性,本实用新型提供了一种真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测试装置,通过五维精密位移台实现刷丝(或束、块)压力加载、动态力矩传感采集摩擦力矩、直流无刷电机与行星减速器驱动、真空润滑处理保证装置真空使用寿命等技术手段,实现了空间导电滑环摩擦副性能精准测试,为空间导电滑环的研制提供有力保障。
授权日期2020-01-31
申请日期2019-03-12
专利号CN201920310484.8
语种中文
专利状态授权
申请号CN201920310484.8
公开(公告)号CN210005374U
IPC 分类号G01N3/56 ; G01N3/02
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/94073
专题光电跟踪与测量技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
谢友金,高雄,崔凯,等. 真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测试装置. CN201920310484.8[P]. 2020-01-31.
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真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测(703KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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