OPT OpenIR  > 光学定向与测量技术研究室
用于光电检测设备的异面空间角度测量装置及测量方法
王致强; 陆卫国; 陈森; 郑基睿; 王晓伟; 王海霞; 雷瑞利
2019-12-04
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2020-04-28
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明属于高精度角度测量领域,为了解决光学自准直测量法测量误差大,测量时需要将被测设备搬离至测量环境,以及对测量环境要求高的问题,提供用于光电检测设备的异面空间角度测量装置及测量方法。测量装置的标定自准直仪发出的准直光束通过分束镜后分两束,一束通过斜方棱镜后准直中继直角棱镜,另一束通过五棱分光镜后再分为两束。测量方法是分别通过斜方棱镜和两个直角屋脊棱镜,对中继直角棱镜和两个被测直角棱镜准直,得到中继直角棱镜和被测直角棱镜外法线与标定自准直仪光轴方位夹角,被测设备自身再准直中继直角棱镜,得到其光轴与中继直角棱镜外法线方位夹角,借助中继直角棱镜,完成被测设备光轴与被测直角棱镜外法线方位夹角的测量。
申请日期2019-12-04
专利号CN201911227663.6
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201911227663.6
公开(公告)号CN111076699A
IPC 分类号G01C1/00
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93982
专题光学定向与测量技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
王致强,陆卫国,陈森,等. 用于光电检测设备的异面空间角度测量装置及测量方法. CN201911227663.6[P]. 2019-12-04.
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用于光电检测设备的异面空间角度测量装置及(819KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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