OPT OpenIR  > 光谱成像技术研究室
一种高光谱快速大气校正参数化方法
李海巍; 陈军宇; 张耿; 胡炳樑
2019-11-12
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明属于定量遥感中高光谱大气校正方法,为解决定量遥感领域中,采用应用广泛的辐射传输模型法进行大气校正时,计算过程需耗费大量的计算机资源和时间,导致工作效率较低,以及反射率反演精度不足的技术问题,提供一种高光谱快速大气校正参数化方法,包括获取环境及观测参数、建立大气校正计算模型、设定预设地表反射率值和最终海拔高度H2值利用MODTRAN模型得到不同波段对应的表观辐亮度、利用大气校正计算模型计算大气校正参数、建立查找表、计算表观辐亮度和查表完成大气校正。进行5次模拟计算,有效避开了大气程辐射,进一步提高了辐射校正的精度和效率。
申请日期2019-11-12
专利号CN201911100912.5
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201911100912.5
公开(公告)号CN110987821A
IPC 分类号G01N21/25
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93954
专题光谱成像技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
李海巍,陈军宇,张耿,等. 一种高光谱快速大气校正参数化方法. CN201911100912.5[P]. 2019-11-12.
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一种高光谱快速大气校正参数化方法.pdf(558KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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