OPT OpenIR  > 光学定向与测量技术研究室
一种双光谱三维姿态角测量装置及测量方法
陈森; 陆卫国; 王致强; 刘爱敏; 王海霞
2019-11-04
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及一种双光谱三维姿态角测量装置及测量方法,解决现有三维姿态角测量系统复杂、体积大以及测量精度较低,不符合航天领域测量要求的问题。该装置包括双光谱光源、二维自准直仪、图像传感器电路板、五棱分光棱镜、折转棱镜和数据处理模块;双光谱光源发射红绿光谱光束,该光谱光束经二维自准直仪的同一狭缝出射后入射至五棱分光棱镜,五棱分光棱镜将双光谱光束分成两路,第一光路光束穿过五棱分光棱镜直接入射至被测立方镜前表面,第二光路光束通过折转棱镜折转入射至被测立方镜的侧表面,两路光束原路反射,二维自准直仪的图像传感器对返回的光束进行分时成像,图像传感器电路板对图像进行采集,并传输给数据处理模块。
申请日期2019-11-04
专利号CN201911064430.9
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201911064430.9
公开(公告)号CN110986830A
IPC 分类号G01B11/26 ; G01C1/00
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93945
专题光学定向与测量技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
陈森,陆卫国,王致强,等. 一种双光谱三维姿态角测量装置及测量方法. CN201911064430.9[P]. 2019-11-04.
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一种双光谱三维姿态角测量装置及测量方法.(605KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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