OPT OpenIR  > 精密计量技术研究中心
用于点源透过率测试的双球型腔体及点源透过率测试系统
李朝辉; 赵建科; 徐亮; 刘峰; 刘勇; 李晓辉; 张玺斌; 午建军
2019-11-04
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明属于光学系统杂散光测试领域,涉及一种用于点源透过率测试的双球型腔体及点源透过率测试系统,解决双圆柱型腔体结构在被测相机测试角度为非水平方向的测量时,一次反射的杂散光线仍然存在很大几率直接进入到相机入瞳,影响PST测试精度的问题。该双球型腔体,由两个半球壳相对接而成,其横竖截面与双圆柱型腔体相同,截面在方位和俯仰上同时兼顾双圆柱型腔体的消光优点,使得相机测试角度为非水平方向时,腔体内壁反射光线经过多次反射后,能够进入到相机内部的杂光几乎可以忽略向完全不受限,保证杂光测试的顺利进行。
申请日期2019-11-04
专利号CN201911064395.0
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201911064395.0
公开(公告)号CN110879132A
IPC 分类号G01M11/02 ; G01M11/02
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93943
专题精密计量技术研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
李朝辉,赵建科,徐亮,等. 用于点源透过率测试的双球型腔体及点源透过率测试系统. CN201911064395.0[P]. 2019-11-04.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
用于点源透过率测试的双球型腔体及点源透过(428KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[李朝辉]的文章
[赵建科]的文章
[徐亮]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[李朝辉]的文章
[赵建科]的文章
[徐亮]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[李朝辉]的文章
[赵建科]的文章
[徐亮]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。