Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 速度测量装置以及方法 | |
| 其他题名 | 速度测量装置以及方法 |
| 上野达也 | |
| 2013-01-16 | |
| 专利权人 | 阿自倍尔株式会社 |
| 公开日期 | 2013-01-16 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 授权发明 |
| 摘要 | 本发明的速度测量装置以及方法能够对卷筒材料的速度进行测量。速度测量装置包括：向作为测定对象的卷筒材料(11)发射激光的半导体激光器(1)；将半导体激光器的光输出变换为电信号的光电二极管(2)；透镜(3)，将来自半导体激光器的光聚光并照射，同时将从卷筒材料返回的光聚光并入射到半导体激光器中；驱动半导体激光器的激光驱动器(4)；将光电二极管2的输出电流变换为电压并放大的电流-电压变换放大部(5)；除去电流-电压变换放大部的输出电压中的载波的滤波部(6)；计算滤波部的输出电压中所含有的干涉波形的数量的信号提取部(7)；基于信号提取部的计数结果算出卷筒材料的速度的运算部(8)。 |
| 其他摘要 | 本发明的速度测量装置以及方法能够对卷筒材料的速度进行测量。速度测量装置包括：向作为测定对象的卷筒材料(11)发射激光的半导体激光器(1)；将半导体激光器的光输出变换为电信号的光电二极管(2)；透镜(3)，将来自半导体激光器的光聚光并照射，同时将从卷筒材料返回的光聚光并入射到半导体激光器中；驱动半导体激光器的激光驱动器(4)；将光电二极管2的输出电流变换为电压并放大的电流-电压变换放大部(5)；除去电流-电压变换放大部的输出电压中的载波的滤波部(6)；计算滤波部的输出电压中所含有的干涉波形的数量的信号提取部(7)；基于信号提取部的计数结果算出卷筒材料的速度的运算部(8)。 |
| 申请日期 | 2010-11-30 |
| 专利号 | CN102116775B |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | CN201010583389.9 |
| 公开（公告）号 | CN102116775B |
| IPC 分类号 | G01P3/36 |
| 专利代理人 | 孙敬国 |
| 代理机构 | 上海市华诚律师事务所 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93121 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 阿自倍尔株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 上野达也. 速度测量装置以及方法. CN102116775B[P]. 2013-01-16. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN102116775B.PDF（1475KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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