用二极管激光器对气体中杂质量进行分析的方法和仪器

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	用二极管激光器对气体中杂质量进行分析的方法和仪器
其他题名	用二极管激光器对气体中杂质量进行分析的方法和仪器
	卡特琳·荣杰; 法布里斯·布奈克斯; 帕特里克·莫韦; 弗雷德里克·斯托克尔
	1997-04-23
专利权人	乔治·克劳德方法的研究开发空气股份有限公司
公开日期	1997-04-23
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	一种分析一气体试样中至少一种杂质含量的方法，通过测量所检测杂质对二极管激光器发出光束的吸收能力从而分析出来杂质含量，所述光束分离成至少两个分支，一个称为测量光束，它聚焦于测量用光探测器之前先穿过多通道容器中的气体试样；另一分支称为参考光束，它不经过气体试样直接聚焦在一参考光探测器上，此方法中气体试样的压力至少等于大气压以及采用了对二极管输入电流进行调制的技术，调制函数至少包括一指数型函数。
其他摘要	一种分析一气体试样中至少一种杂质含量的方法，通过测量所检测杂质对二极管激光器发出光束的吸收能力从而分析出来杂质含量，所述光束分离成至少两个分支，一个称为测量光束，它聚焦于测量用光探测器之前先穿过多通道容器中的气体试样；另一分支称为参考光束，它不经过气体试样直接聚焦在一参考光探测器上，此方法中气体试样的压力至少等于大气压以及采用了对二极管输入电流进行调制的技术，调制函数至少包括一指数型函数。
申请日期	1996-04-19
专利号	CN1148173A
专利状态	失效
申请号	CN96105144.2
公开（公告）号	CN1148173A
IPC 分类号	G01J3/42 \| G01N21/35 \| G01N21/39
专利代理人	陈申贤
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92979
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	乔治·克劳德方法的研究开发空气股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	卡特琳·荣杰,法布里斯·布奈克斯,帕特里克·莫韦,等. 用二极管激光器对气体中杂质量进行分析的方法和仪器. CN1148173A[P]. 1997-04-23.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN1148173A.PDF（903KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文