Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 光拾取装置 | |
| 其他题名 | 光拾取装置 |
| 堀田彻; 川崎良一 | |
| 2012-09-12 | |
| 专利权人 | 三洋电机株式会社 |
| 公开日期 | 2012-09-12 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 本发明提供一种光拾取装置，其能够对由设在双波长激光二极管上的第1激光元件与第2激光元件之间的位置偏移为起因而产生的、设于光检测器的受光部的位置偏移进行修正。其中，该光拾取装置具有光检测器，该光检测器在同一个半导体基板上形成有供自第1光盘的信号记录层反射的返回光照射的第1受光部和供自第2光盘的信号记录层反射的返回光照射的第2受光部（8D），利用第1受光部调整上述光检测器的固定位置，并且在第2受光部（8D）上形成有用于对第1受光部与第2受光部（8D）的位置偏移进行电修正的位置偏移修正用受光部。 |
| 其他摘要 | 本发明提供一种光拾取装置，其能够对由设在双波长激光二极管上的第1激光元件与第2激光元件之间的位置偏移为起因而产生的、设于光检测器的受光部的位置偏移进行修正。其中，该光拾取装置具有光检测器，该光检测器在同一个半导体基板上形成有供自第1光盘的信号记录层反射的返回光照射的第1受光部和供自第2光盘的信号记录层反射的返回光照射的第2受光部（8D），利用第1受光部调整上述光检测器的固定位置，并且在第2受光部（8D）上形成有用于对第1受光部与第2受光部（8D）的位置偏移进行电修正的位置偏移修正用受光部。 |
| 申请日期 | 2010-11-18 |
| 专利号 | CN102667930A |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | CN201080052638.X |
| 公开（公告）号 | CN102667930A |
| IPC 分类号 | G11B7/09 | G11B7/1275 | G11B7/13 | G11B7/133 | G11B7/22 | G11B7/125 |
| 专利代理人 | 刘新宇 | 张会华 |
| 代理机构 | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92779 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 三洋电机株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 堀田彻,川崎良一. 光拾取装置. CN102667930A[P]. 2012-09-12. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN102667930A.PDF（699KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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