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用于测量太赫兹量子级联激光器增益的器件及测量方法
其他题名用于测量太赫兹量子级联激光器增益的器件及测量方法
徐刚毅; 何力; 朱欢; 俞辰韧; 常高垒; 朱海卿; 陈建新; 王芳芳; 颜全
2019-01-18
专利权人中国科学院上海技术物理研究所
公开日期2019-01-18
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明公开了一种用于测量太赫兹量子级联激光器增益的器件及测量方法。本发明采用光栅耦合器及吸收边界制作了激光器与两个不同长度的放大器的单片集成结构,通过测量激光在两个放大器中传播后耦合出射的功率,结合激光在放大器中的传播规律从而获得增益或损耗。该方法可以获得双金属波导太赫兹量子级联激光器增益随偏压的变化关系,并具有光谱分辨特征。该方法最大的优点是:充分抑制了放大器的自激振荡,突破了增益钳制效应,可以测得双金属波导的最大增益。
其他摘要本发明公开了一种用于测量太赫兹量子级联激光器增益的器件及测量方法。本发明采用光栅耦合器及吸收边界制作了激光器与两个不同长度的放大器的单片集成结构,通过测量激光在两个放大器中传播后耦合出射的功率,结合激光在放大器中的传播规律从而获得增益或损耗。该方法可以获得双金属波导太赫兹量子级联激光器增益随偏压的变化关系,并具有光谱分辨特征。该方法最大的优点是:充分抑制了放大器的自激振荡,突破了增益钳制效应,可以测得双金属波导的最大增益。
申请日期2018-11-01
专利号CN109244822A
专利状态申请中
申请号CN201811292367.X
公开(公告)号CN109244822A
IPC 分类号H01S5/00 | H01S5/12 | G01M11/00 | G01R31/00
专利代理人郭英
代理机构上海沪慧律师事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92324
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院上海技术物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
徐刚毅,何力,朱欢,等. 用于测量太赫兹量子级联激光器增益的器件及测量方法. CN109244822A[P]. 2019-01-18.
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