Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 分析固体样品的方法和设备 | |
| 其他题名 | 分析固体样品的方法和设备 |
| 秋吉孝则; 坂下明子; 石桥耀一; 望月正; 佐藤重臣; 前川俊哉 | |
| 1998-03-25 | |
| 专利权人 | 日本钢管株式会社 |
| 公开日期 | 1998-03-25 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 一种分析固体样品的方法,包括:产生一种具有频率至少为100Hz和半宽等于或小于1μs的脉冲激光束;确定激光的辐射区域;在惰性气体气流中辐射脉冲激光束使固体样品部分气化产生细小颗粒;将细小颗粒送到一探测器中;和在探测器中进行成分分析。设备包括:含有一个半导体激光器的激光振荡装置;聚焦激光束的聚焦装置,辐射聚焦的激光束以产生细小颗粒的辐射装置;进行元素分析的分析仪;及将细小颗粒传送到上述分析仪的传送装置。 |
| 其他摘要 | 一种分析固体样品的方法,包括:产生一种具有频率至少为100Hz和半宽等于或小于1μs的脉冲激光束;确定激光的辐射区域;在惰性气体气流中辐射脉冲激光束使固体样品部分气化产生细小颗粒;将细小颗粒送到一探测器中;和在探测器中进行成分分析。设备包括:含有一个半导体激光器的激光振荡装置;聚焦激光束的聚焦装置,辐射聚焦的激光束以产生细小颗粒的辐射装置;进行元素分析的分析仪;及将细小颗粒传送到上述分析仪的传送装置。 |
| 申请日期 | 1997-01-09 |
| 专利号 | CN1177100A |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | CN97102226 |
| 公开（公告）号 | CN1177100A |
| IPC 分类号 | G01N1/00 | G01N21/71 | G01N21/63 |
| 专利代理人 | 王以平 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91881 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 日本钢管株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 秋吉孝则,坂下明子,石桥耀一,等. 分析固体样品的方法和设备. CN1177100A[P]. 1998-03-25. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN1177100A.PDF（2816KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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