小靶面立靶密集度光电测量装置

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	小靶面立靶密集度光电测量装置
其他题名	小靶面立靶密集度光电测量装置
	马卫红; 倪晋平; 董涛; 田会; 蔡荣立
	2010-12-22
专利权人	西安工业大学
公开日期	2010-12-22
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明涉及一种小靶面立靶密集度光电测量装置。传统的接触测量方法存在劳动强度大，测量结果受人工影像较大，特别是不能识别重孔，无法实时给出测量结果的问题。本发明将激光光源组件设置于线阵CCD相机侧面且对称设置，激光光源组件的出光主轴与线阵CCD相机的主轴共面，原向反射膜相对于线阵CCD相机且垂直于激光光源组件发出的光幕。本发明采用一体化结构设计，由采用小功率半导体激光器的激光组件与低成本原向反射膜配合形成相对于CCD相机汇聚的光幕，可靠的采集弹丸穿过光幕的位置信息，有效的解决了CCD交汇测试在室内使用的光照不稳定、灵敏度低的问题，装调方便，结构简单，人员及设备安全性高。
其他摘要	本发明涉及一种小靶面立靶密集度光电测量装置。传统的接触测量方法存在劳动强度大，测量结果受人工影像较大，特别是不能识别重孔，无法实时给出测量结果的问题。本发明将激光光源组件设置于线阵CCD相机侧面且对称设置，激光光源组件的出光主轴与线阵CCD相机的主轴共面，原向反射膜相对于线阵CCD相机且垂直于激光光源组件发出的光幕。本发明采用一体化结构设计，由采用小功率半导体激光器的激光组件与低成本原向反射膜配合形成相对于CCD相机汇聚的光幕，可靠的采集弹丸穿过光幕的位置信息，有效的解决了CCD交汇测试在室内使用的光照不稳定、灵敏度低的问题，装调方便，结构简单，人员及设备安全性高。
申请日期	2010-08-10
专利号	CN101922895A
专利状态	失效
申请号	CN201010249624.9
公开（公告）号	CN101922895A
IPC 分类号	F41J5/02
专利代理人	黄秦芳
代理机构	西安新思维专利商标事务所有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91757
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西安工业大学
推荐引用方式 GB/T 7714	马卫红,倪晋平,董涛,等. 小靶面立靶密集度光电测量装置. CN101922895A[P]. 2010-12-22.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN101922895A.PDF（459KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文