OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
共光路径向剪切数字波面干涉仪
其他题名共光路径向剪切数字波面干涉仪
何煦; 马军
2012-06-27
专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期2012-06-27
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要一种共光路径向剪切数字波面干涉仪涉及一种光学干涉仪波面检测装置,解决了干涉仪的电控、机械系统复杂,研制成本高,难以保证长光路或测试环境的使用条件,很难达到较高的测试精度的问题。该干涉仪应用新型的共光路剪切干涉光路结构,具体包括:半导体激光器、扩束镜、空间滤波器、准直镜、剪切比控制镜、成像系统;该干涉仪还包括:第一偏振片、第二偏振片和胶合棱镜。本发明采用同轴共光路形式,使共光路干涉系统具有对振动、温度和气流的变化能产生彼此共模抑制的优点,可以在隔振条件和恒温条件较低时也能获得稳定的干涉条纹。因此具有抗干扰特性的数字波面共光路径向剪切干涉光路较为适合于长光路条件下光学系统波像差的实时检测与监控。
其他摘要一种共光路径向剪切数字波面干涉仪涉及一种光学干涉仪波面检测装置,解决了干涉仪的电控、机械系统复杂,研制成本高,难以保证长光路或测试环境的使用条件,很难达到较高的测试精度的问题。该干涉仪应用新型的共光路剪切干涉光路结构,具体包括:半导体激光器、扩束镜、空间滤波器、准直镜、剪切比控制镜、成像系统;该干涉仪还包括:第一偏振片、第二偏振片和胶合棱镜。本发明采用同轴共光路形式,使共光路干涉系统具有对振动、温度和气流的变化能产生彼此共模抑制的优点,可以在隔振条件和恒温条件较低时也能获得稳定的干涉条纹。因此具有抗干扰特性的数字波面共光路径向剪切干涉光路较为适合于长光路条件下光学系统波像差的实时检测与监控。
申请日期2011-12-26
专利号CN102519611A
专利状态失效
申请号CN201110440141
公开(公告)号CN102519611A
IPC 分类号G01J9/02 | G02B27/28
专利代理人张伟
代理机构长春菁华专利商标代理事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91626
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
何煦,马军. 共光路径向剪切数字波面干涉仪. CN102519611A[P]. 2012-06-27.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN102519611A.PDF(539KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[何煦]的文章
[马军]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[何煦]的文章
[马军]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[何煦]的文章
[马军]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。