Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 一种半导体激光器调制系数测量装置及方法 | |
| 其他题名 | 一种半导体激光器调制系数测量装置及方法 |
| 张尚剑; 邹新海; 王恒; 刘俊伟; 张雅丽; 陆荣国; 刘永 | |
| 2016-02-03 | |
| 专利权人 | 电子科技大学 |
| 公开日期 | 2016-02-03 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 本发明公开了一种半导体激光器调制系数测量装置及方法，涉及光电子技术领域，为了解决现有电域测量方法需要额外校准光电探测器的影响以及光域测量方法频率分辨率较低的技术问题；本发明采用二次调制电光混频装置，二次调制电光混频装置由第一信号源、电光强度调制器、第二信号源、光电探测器、频谱分析模块、控制及数据处理模块构成；待测半导体激光器和电光强度调制器分别加载频率不同的正弦信号进行调制；通过设置两正弦信号的特定频率关系消除了光电探测器的影响，实现了半导体激光器调制系数的高分辨率、自校准电域测量。 |
| 其他摘要 | 本发明公开了一种半导体激光器调制系数测量装置及方法，涉及光电子技术领域，为了解决现有电域测量方法需要额外校准光电探测器的影响以及光域测量方法频率分辨率较低的技术问题；本发明采用二次调制电光混频装置，二次调制电光混频装置由第一信号源、电光强度调制器、第二信号源、光电探测器、频谱分析模块、控制及数据处理模块构成；待测半导体激光器和电光强度调制器分别加载频率不同的正弦信号进行调制；通过设置两正弦信号的特定频率关系消除了光电探测器的影响，实现了半导体激光器调制系数的高分辨率、自校准电域测量。 |
| 申请日期 | 2015-04-17 |
| 专利号 | CN105300662A |
| 专利状态 | 授权 |
| 申请号 | CN201510182684.6 |
| 公开（公告）号 | CN105300662A |
| IPC 分类号 | G01M11/02 |
| 专利代理人 | 杨保刚 | 徐金琼 |
| 代理机构 | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91500 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 电子科技大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张尚剑,邹新海,王恒,等. 一种半导体激光器调制系数测量装置及方法. CN105300662A[P]. 2016-02-03. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN105300662A.PDF（442KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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