Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
一种快速测量光纤长度的方法和设备 | |
其他题名 | 一种快速测量光纤长度的方法和设备 |
何赛灵; 周斌; 顾波波 | |
2008-12-10 | |
专利权人 | 浙江大学 |
公开日期 | 2008-12-10 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 本发明涉及一种快速测量光纤长度的方法和设备。本发明中使用普通连续半导体激光器作为光源,电光调制器和待测光纤都接入萨尼亚克环中,其中电光调制器在萨尼亚克环中是不对称放置的,靠近光纤耦合器的一个口;电光调制器由频率可线性扫描的射频信号驱动;射频信号频率改变时,萨尼亚克干涉计的透射率改变,透射率变化频率与待测光纤长度有关;由光电二极管检测透射率变化;光电二极管的输出端与数据采集卡连接;采集卡采集到的数据通过快速傅立叶变换以及相关运算,得到光纤长度。本发明克服了不能同时满足大范围高精度测量的要求,并且相对成本较低。由于待测光纤连入萨尼亚克环中,设备抗外界温度波动以及机械扰动性能强。 |
其他摘要 | 本发明涉及一种快速测量光纤长度的方法和设备。本发明中使用普通连续半导体激光器作为光源,电光调制器和待测光纤都接入萨尼亚克环中,其中电光调制器在萨尼亚克环中是不对称放置的,靠近光纤耦合器的一个口;电光调制器由频率可线性扫描的射频信号驱动;射频信号频率改变时,萨尼亚克干涉计的透射率改变,透射率变化频率与待测光纤长度有关;由光电二极管检测透射率变化;光电二极管的输出端与数据采集卡连接;采集卡采集到的数据通过快速傅立叶变换以及相关运算,得到光纤长度。本发明克服了不能同时满足大范围高精度测量的要求,并且相对成本较低。由于待测光纤连入萨尼亚克环中,设备抗外界温度波动以及机械扰动性能强。 |
申请日期 | 2008-07-15 |
专利号 | CN101319879A |
专利状态 | 失效 |
申请号 | CN200810120025.X |
公开(公告)号 | CN101319879A |
IPC 分类号 | G01B11/02 | G02F1/35 | G02F2/02 | G02B6/28 | G02F1/03 |
专利代理人 | 杜军 |
代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91225 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 浙江大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 何赛灵,周斌,顾波波. 一种快速测量光纤长度的方法和设备. CN101319879A[P]. 2008-12-10. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN101319879A.PDF(396KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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