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基于倍频半导体激光的气态元素汞浓度检测装置及方法
其他题名基于倍频半导体激光的气态元素汞浓度检测装置及方法
娄秀涛; 林宏泽; 邓天瑞; 万莉; 王俊楠; 何赛灵
2017-02-01
专利权人苏州瑞蓝环保科技有限公司
公开日期2017-02-01
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明公开了一种基于倍频半导体激光的气态元素汞浓度检测装置,包括:激光控制器、半导体激光器、光栅、光栅控制器、反射镜、第一凸透镜、BBO晶体、第二凸透镜、分光棱镜、可切换汞池安装座、参考汞池、零气气池、位移控制器、样品气池、干涉滤光片、探测器、信号分析器。本发明能对样品气池中汞气浓度进行测量,实现了对元素汞浓度的实时监测,满足工业汞排放监测需求。
其他摘要本发明公开了一种基于倍频半导体激光的气态元素汞浓度检测装置,包括:激光控制器、半导体激光器、光栅、光栅控制器、反射镜、第一凸透镜、BBO晶体、第二凸透镜、分光棱镜、可切换汞池安装座、参考汞池、零气气池、位移控制器、样品气池、干涉滤光片、探测器、信号分析器。本发明能对样品气池中汞气浓度进行测量,实现了对元素汞浓度的实时监测,满足工业汞排放监测需求。
申请日期2016-08-16
专利号CN106370621A
专利状态申请中
申请号CN201610674257.4
公开(公告)号CN106370621A
IPC 分类号G01N21/39
专利代理人周良玉
代理机构北京航信高科知识产权代理事务所(普通合伙)
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91163
专题半导体激光器专利数据库
作者单位苏州瑞蓝环保科技有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
娄秀涛,林宏泽,邓天瑞,等. 基于倍频半导体激光的气态元素汞浓度检测装置及方法. CN106370621A[P]. 2017-02-01.
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