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窒化物半導体の結晶成長方法および窒化物半導体装置並びにその製造方法
其他题名窒化物半導体の結晶成長方法および窒化物半導体装置並びにその製造方法
伊藤 国雄; 石田 昌宏
2000-02-18
专利权人MATSUSHITA ELECTRON CORP
公开日期2000-02-18
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要【課題】窒化物半導体結晶層における転位を従来よりも減少させる窒化物半導体の結晶成長方法を提供する。 【解決手段】本発明の窒化物半導体の結晶成長方法は、基板上に金属単結晶層を形成する工程と、金属単結晶層を窒化することによって金属窒化物単結晶層を形成する工程と、金属窒化物単結晶層上に窒化物半導体層をエピタキシャル成長する工程とを包含する。
其他摘要要解决的问题:通过在通过氮化单晶金属层形成的单晶金属氮化物层上外延生长晶体氮化物半导体层来获得具有较少缺陷和位错的氮化物半导体层。解决方案:在生长氮化物半导体晶体的方法中,单晶绝缘体,单晶Si1-s-tGesCt(0 <= s,t <= 1,0 <= s + t <= 1)或A1 -uBu(0
申请日期1999-05-21
专利号JP2000049092A
专利状态失效
申请号JP1999141143
公开(公告)号JP2000049092A
IPC 分类号H01L33/34 | H01S5/30 | H01S5/323 | H01S5/343 | H01L21/203 | H01L33/32 | H01S5/00 | H01L33/00
专利代理人前田 弘 (外1名)
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86857
专题半导体激光器专利数据库
作者单位MATSUSHITA ELECTRON CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
伊藤 国雄,石田 昌宏. 窒化物半導体の結晶成長方法および窒化物半導体装置並びにその製造方法. JP2000049092A[P]. 2000-02-18.
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