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Semiconductor light emitting device
其他题名Semiconductor light emitting device
FURUMIYA SATOSHI
1984-06-29
专利权人FUJITSU KK
公开日期1984-06-29
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要PURPOSE:To improve the light emitting efficiency of a light emitting device of double hetero structure formed of semiconductor of InGaAsP/InP series by composing the conductive type of regions between which an active layer is interposed of an N type region which contains high density of Se, thereby enhancing the current limiting effect. CONSTITUTION:A P type lower clad layer 12 and an N type InP layer 13' formed of the lower layer of a current limiting layer are laminated and grown on a P type InP substrate 11, and opened with a V-shaped groove 32 for forming a light emitting unit which is intruded into the layer 12 while moving along the optical axis in (110) direction by etching. Then, a P type InP layer 14 to become a current limiting layer is accumulated on the overall surface including the groove, a lower clad layer 14' is produced in the groove 21, an undoped InGaAsP layer 15 is covered on the overall surface, and a delta-shaped active layer 15' having a thick center is formed on the layer 14'. In this structure, Se of approx. 1X10/cm is contained in advance in the layer 13', and the layer 15' is enclosed by an N type InP layer 13 which contains high density of Se.
其他摘要用途:通过构成包含高密度Se的N型区域的有源层的导电类型区域,提高由InGaAsP / InP系列半导体形成的双异质结构的发光器件的发光效率从而增强了限流效果。组成:AP型下包层12和由限流层下层形成的N型InP层13'层叠并生长在P型InP基板11上,并用V形槽32打开以形成一个发光单元在通过蚀刻沿(110)方向沿光轴移动的同时侵入层12中。然后,在包括凹槽的整个表面上累积成为限流层的P型InP层14,在凹槽21中产生下包层14',在整个表面上覆盖未掺杂的InGaAsP层15,以及在层14'上形成具有厚中心的δ形活性层15'。在这种结构中,Se约为在层13'中预先包含1×1020 / cm2,并且层1​​5'被包含高密度Se的N型InP层13包围。
申请日期1982-12-20
专利号JP1984112673A
专利状态失效
申请号JP1982223170
公开(公告)号JP1984112673A
IPC 分类号H01S5/00 | H01S5/223 | H01S3/18
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86679
专题半导体激光器专利数据库
作者单位FUJITSU KK
推荐引用方式
GB/T 7714
FURUMIYA SATOSHI. Semiconductor light emitting device. JP1984112673A[P]. 1984-06-29.
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JP1984112673A.PDF(276KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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