OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
激光勘查装置
其他题名激光勘查装置
李阳; 杨洋
2014-10-08
专利权人李阳
公开日期2014-10-08
授权国家中国
专利类型实用新型
摘要本实用新型提供了一种激光勘查装置,发射用于现场勘查的光束,包括:多个半导体激光单元,以阵列方式设置在底座上;汇聚反射镜,设置在半导体激光单元阵列上方以反射多个半导体激光单元发射的激光汇聚到出光口以形成出射光束;和调焦透镜部件,设置在出光口,调焦透镜部件用于对出射光束进行调节。本实用新型的激光勘查装置在勘探过程中不会破坏痕迹。
其他摘要本实用新型提供了一种激光勘查装置,发射用于现场勘查的光束,包括:多个半导体激光单元,以阵列方式设置在底座上;汇聚反射镜,设置在半导体激光单元阵列上方以反射多个半导体激光单元发射的激光汇聚到出光口以形成出射光束;和调焦透镜部件,设置在出光口,调焦透镜部件用于对出射光束进行调节。本实用新型的激光勘查装置在勘探过程中不会破坏痕迹。
申请日期2014-05-16
专利号CN203870008U
专利状态授权
申请号CN201420253423.X
公开(公告)号CN203870008U
IPC 分类号G01N21/01
专利代理人康正德 | 薛峰
代理机构北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙)
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86407
专题半导体激光器专利数据库
作者单位李阳
推荐引用方式
GB/T 7714
李阳,杨洋. 激光勘查装置. CN203870008U[P]. 2014-10-08.
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文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN203870008U.PDF(562KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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