频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪

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	频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪
其他题名	频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪
	张绪国; 江月松; 王长伟
	2009-01-28
专利权人	北京航空航天大学
公开日期	2009-01-28
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	高精确度、长距离(几十到几百米)亚毫米量级测量仪器一直是国际上研究的难点和热点。本发明提出一种利用频率扫描干涉法进行远距离高精度绝对距离测量的系统，属于精密测量技术领域。该距离测量系统主要有无模跳频率扫描外腔半导体激光器、高精度法布里－珀罗腔、参考干涉计、测量干涉计，以及数据采集和控制系统组成。通过激光器的频率扫描利用干涉法可以直接测量相位差，所测的绝对距离和相位差成正比，通过相位解包裹得到完整的相位差，消除了模2π的不确定性，不存在绝对距离测量的不确定性。该系统具有测量精度高、快速、稳定、可靠等优点，适用于空间综合孔径子孔径间的距离测量、小行星编队、测绘、建筑以及军事等领域。
其他摘要	高精确度、长距离(几十到几百米)亚毫米量级测量仪器一直是国际上研究的难点和热点。本发明提出一种利用频率扫描干涉法进行远距离高精度绝对距离测量的系统，属于精密测量技术领域。该距离测量系统主要有无模跳频率扫描外腔半导体激光器、高精度法布里－珀罗腔、参考干涉计、测量干涉计，以及数据采集和控制系统组成。通过激光器的频率扫描利用干涉法可以直接测量相位差，所测的绝对距离和相位差成正比，通过相位解包裹得到完整的相位差，消除了模2π的不确定性，不存在绝对距离测量的不确定性。该系统具有测量精度高、快速、稳定、可靠等优点，适用于空间综合孔径子孔径间的距离测量、小行星编队、测绘、建筑以及军事等领域。
申请日期	2008-09-27
专利号	CN101354248A
专利状态	失效
申请号	CN200810223402.2
公开（公告）号	CN101354248A
IPC 分类号	G01C3/00 \| G01S11/12
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86370
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	张绪国,江月松,王长伟. 频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪. CN101354248A[P]. 2009-01-28.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN101354248A.PDF（251KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文