半导体激光器离线测试方法

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	半导体激光器离线测试方法
其他题名	半导体激光器离线测试方法
	张丽雯; 陆耀东; 王涛; 任奕奕; 宋金鹏; 张玉莹
	2015-09-02
专利权人	北京光电技术研究所
公开日期	2015-09-02
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明提供一种半导体激光器离线测试方法，各待测试半导体激光器与各测试装置一一对应安装在测试平台上，所述各测试装置中分别包含电源模块，以对各测试装置供电，各测试装置通过数据总线与控制主机电连接，该方法包括：测试装置接收控制主机发送的包括各待测试参数的测试指令；测试装置断开与控制主机间的电连接，并控制分别与各待测试参数对应的传感器对待测试半导体激光器的各待测试参数分别进行参数数据采集；测试装置对采集到的参数数据进行数据处理，并存储处理结果；测试装置测试完成后断开与半导体激光器的连接，并将处理结果发送给控制主机，以实现对各半导体激光器工作参数的离线测试。
其他摘要	本发明提供一种半导体激光器离线测试方法，各待测试半导体激光器与各测试装置一一对应安装在测试平台上，所述各测试装置中分别包含电源模块，以对各测试装置供电，各测试装置通过数据总线与控制主机电连接，该方法包括：测试装置接收控制主机发送的包括各待测试参数的测试指令；测试装置断开与控制主机间的电连接，并控制分别与各待测试参数对应的传感器对待测试半导体激光器的各待测试参数分别进行参数数据采集；测试装置对采集到的参数数据进行数据处理，并存储处理结果；测试装置测试完成后断开与半导体激光器的连接，并将处理结果发送给控制主机，以实现对各半导体激光器工作参数的离线测试。
申请日期	2015-05-15
专利号	CN104880659A
专利状态	授权
申请号	CN201510251356.7
公开（公告）号	CN104880659A
IPC 分类号	G01R31/26 \| G01M11/00
专利代理人	张洋 \| 黄健
代理机构	北京同立钧成知识产权代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86073
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	北京光电技术研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	张丽雯,陆耀东,王涛,等. 半导体激光器离线测试方法. CN104880659A[P]. 2015-09-02.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN104880659A.PDF（678KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文