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激光器寿命测试系统
其他题名激光器寿命测试系统
路国光; 谢少锋; 郝明明; 周振威; 肖庆中; 赖灿雄; 尧彬; 黄云
2016-06-08
专利权人工业和信息化部电子第五研究所
公开日期2016-06-08
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明公开了一种激光器寿命测试系统,所述系统包括电源驱动模块、样品池、温度控制模块、参数测试模块、故障诊断与健康管理模块和计算机控制模块,所述样品池用于承载激光器;电源驱动模块分别与样品池和故障诊断与健康管理模块连接,样品池设置在温度控制模块上,样品池和温度控制模块分别与故障诊断与健康管理模块连接,参数测试模块用于对装载在所述样品池中的激光器进行监测,电源驱动模块、温度控制模块、参数测试模块和故障诊断与健康管理模块分别与计算机控制模块连接。本发明为半导体激光器寿命评价、老化筛选提供了设备保障;具备故障诊断与健康管理功能,避免因寿命试验装置关键部件故障导致寿命试验中断或试验装置损伤。
其他摘要本发明公开了一种激光器寿命测试系统,所述系统包括电源驱动模块、样品池、温度控制模块、参数测试模块、故障诊断与健康管理模块和计算机控制模块,所述样品池用于承载激光器;电源驱动模块分别与样品池和故障诊断与健康管理模块连接,样品池设置在温度控制模块上,样品池和温度控制模块分别与故障诊断与健康管理模块连接,参数测试模块用于对装载在所述样品池中的激光器进行监测,电源驱动模块、温度控制模块、参数测试模块和故障诊断与健康管理模块分别与计算机控制模块连接。本发明为半导体激光器寿命评价、老化筛选提供了设备保障;具备故障诊断与健康管理功能,避免因寿命试验装置关键部件故障导致寿命试验中断或试验装置损伤。
申请日期2016-03-01
专利号CN105651489A
专利状态申请中
申请号CN201610118650.5
公开(公告)号CN105651489A
IPC 分类号G01M11/00
专利代理人黄晓庆
代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86000
专题半导体激光器专利数据库
作者单位工业和信息化部电子第五研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
路国光,谢少锋,郝明明,等. 激光器寿命测试系统. CN105651489A[P]. 2016-06-08.
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CN105651489A.PDF(128KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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