半导体激光器阵列单巴实时测试系统及测试方法

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	半导体激光器阵列单巴实时测试系统及测试方法
其他题名	半导体激光器阵列单巴实时测试系统及测试方法
	蔡磊; 吴迪; 孙翔; 刘兴胜
	2016-02-17
专利权人	西安炬光科技股份有限公司
公开日期	2016-02-17
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明提出一种半导体激光器阵列单巴实时测试系统及测试方法，能够简便、有效地实现阵列工作状态下单巴功率和/或光谱的测试。该半导体激光器阵列单巴实时测试系统，包括半导体激光器阵列、光接收器、光束导光分离器和拖动机构，所述光束导光分离器设置于半导体激光器阵列与光接收器之间的光路上；光束导光分离器的体型只对应一个巴条的出光，使该巴条的出光在光束导光分离器经过至少一次全反射导出，且导出方向与原光路不同；每次测量，光束导光分离器定位于单个巴条前方；光束导光分离器避免其他巴条的干扰。本发明简便、有效地改变被测试单巴出光光路，不影响激光器的正常工作；且系统体积小，重量轻。
其他摘要	本发明提出一种半导体激光器阵列单巴实时测试系统及测试方法，能够简便、有效地实现阵列工作状态下单巴功率和/或光谱的测试。该半导体激光器阵列单巴实时测试系统，包括半导体激光器阵列、光接收器、光束导光分离器和拖动机构，所述光束导光分离器设置于半导体激光器阵列与光接收器之间的光路上；光束导光分离器的体型只对应一个巴条的出光，使该巴条的出光在光束导光分离器经过至少一次全反射导出，且导出方向与原光路不同；每次测量，光束导光分离器定位于单个巴条前方；光束导光分离器避免其他巴条的干扰。本发明简便、有效地改变被测试单巴出光光路，不影响激光器的正常工作；且系统体积小，重量轻。
申请日期	2015-09-18
专利号	CN105334024A
专利状态	授权
申请号	CN201510599827.3
公开（公告）号	CN105334024A
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	胡乐
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/85980
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西安炬光科技股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	蔡磊,吴迪,孙翔,等. 半导体激光器阵列单巴实时测试系统及测试方法. CN105334024A[P]. 2016-02-17.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN105334024A.PDF（437KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文